TCI- XA全自动清洁度颗粒计数测试系统
XA 全自动型清洁度检测系统对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸，通过显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小，系统能否全自动的扫描滤纸表面的所有残渣颗粒，计算其大小，并且根据设定的检测标准分类统计，并且评定清洁度指标和级别。一般适用于清洁度要求较高，或者测定频繁的场合。
指标：
放大倍率：7X—80X
颗粒范围：3微米—5000微米
滤纸：25/47/50
特点：
l 全自动扫描滤纸，无重复，无遗漏，测定滤纸表面的所有颗粒。
l 能同时将金属颗粒的反光区和阴影区合并测量。
l 可以设定多种清洁度评判指标。
l 特定的测试模版，整合了被测零件、清洗过程、扫描范围、评判标准，输出报告等多种检测因素，操作时选择相应模版，其它自行一一对应。
l 进口光绪器件，自动扫描台最小步距0.5微米，重复进度2微米。
l 测试过程可重现追踪，所有数据可以自行对应相应颗粒。
l 带拼接功能，将跨视场的大颗粒拼接后测量。
l 任意排版的图文混编的报告输出。
l 镀膜基准件，随时测定系统状态。
标准配置：
○ 封闭测试箱
○ 打印机
○ 测试主机
○ 基准件
○ 0.05mm 物镜测微尺
○ TCI-X 清洁度测试分析软件
选配：
○ 烘箱
○ 工作架台