产品名称：简易型颗粒测试系统

TCI-XM清洁度颗粒检测系统对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸，通过测量显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小，与XA型的清洁度检测系统的差别在XM型是手动型，所以一般可以适用于清洁度要求不是非常高的情况，如检测大颗粒，或者颗粒较大而且数量不多。

特点：

●通过数码摄像头可以在计算机监视器上直接观察、测量颗粒，准确测定非金属、金属颗粒的大小

●能同时将金属颗粒的反光区和阴影区合并测量

●鼠标引导测量（鼠标移动相应颗粒），自动给出测量数据

●对于测试颗粒分类汇总

●任意排版的图文混编的报告输出

●颗粒范围：3微米—5000微米

●滤纸：25/47/50/100

   整体性能指标：

放大倍率：8X—50X

颗粒范围：3微米—5000微米

滤纸：25/47/50/100

标准配置

○ 清洁度测量显微镜

○ 环形冷光源

○ 手推平台带滤纸托盘

○ 300万像素高速工业数码摄像头

○ 0.05mm 物镜测微尺

○0.1mm 目镜测微尺

○ TCI 清洁度测试分析软件

○ Dell计算机

○ Hp打印机

        TCI-XM 经济型清洁度检测系统对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸，通过显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小，与XA型的清洁度检测系统的差别在XM型是手动型，所以一般可以适用于清洁度要求不是非常高的情况，如检测大颗粒，或者颗粒较大而且数量不多。